更快、更可靠的光组件测试,包括光子集成电路。
双向扫描,速度最高 200 nm/s
出色的 SSSER
六种型号覆盖 1240 nm – 1680 nm
波长调谐和连续扫描模式
主动无跳模运行
无源光组件
光子集成电路
用于研发的多用途可调激光器
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