用于 WDM 组件和光子集成电路测试的无与伦比的无源光组件测试平台。
采用扫频波长技术进行光学（IL、PDL、RL）和光电流表征
业界首创从 1260 到 1620 nm 的全波段 PDL 测量
高动态范围、高精度、亚皮米分辨率和测试速度的独特结合
集成方案，内置 GUI 和嵌入式分析
面向研发和制造环境的可扩展架构
双触发模式：专用模块光触发 / 记录功能电触发
以亚皮米分辨率对集成光子组件进行光谱表征
制造和研发中的多输出无源光组件测试
WSS 和 ROADM 校准与测试
薄膜滤波器（TFF）表征
瞬态现象记录功能
利用可调激光器的电触发进行光谱表征
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