OPAL-SD - 单芯片自动化探针台
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入门级、灵活、高性价比且可升级。自动光学对准和光子集成电路（PIC）测试，结果可追溯、可查询。芯片和电学探针手动定位。
入门级、灵活、高性价比且可升级。自动光学对准和光子集成电路（PIC）测试，结果可追溯、可查询。芯片和电学探针手动定位。
单片单芯片的表征
面向 PIC 测试与表征的研究级方案
灵活设计，光学和电学 RF/DC 探头可重新定位
使用 EXFO Pilot 软件进行准备、自动执行（对准、仪器控制）和数据管理（存储库、分析）
按需提供多种光学探头选件：最多 6 个电动轴，支持单纤或光纤阵列的表面耦合和边耦合
精密的 DC 和 RF 探针定位器
芯片、模块或条级的光学和电学探针测试
适用于研发、小批量设计验证和测试开发
非常适合学术和研发团队
集成光子平台（如硅光子、磷化铟、III-V 族、聚合物、异质集成）的光电测试
与应用无关（如电信和数据通信光收发模块、量子、LIDAR、传感器、AI）
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