LCR测试仪、阻抗分析仪

LCR测试仪IM3523A

Name: IM3523A LCR测试仪IM3523A
Brand: 日置 HIOKI
SKU: IM3523A

40 Hz〜200 kHz 测量时间 : 2 ms

● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)
● 在比如C-D(120 Hz)和ESR(100 kHz)这样的混合测量条件下，整体测量速度提升至约原来的10倍（与旧机型3532 - 50相比）。
● 搭载比较器和BIN测量（分类功能）

● 可进行测量时间为2msec的高速测量

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型号：IM3523A

概要

LCR测试仪IM3523A测量方法：连续测量不同条件

在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。此时用一台设备就能高速连续完成不同条件下的测量。

LCR测试仪IM3523A测量方法：具备面板读取功能，可让生产线的设置更改顺利进行

若要使用一台LCR测试仪对应多种产品的生产，就需要高效地进行设置更改。 IM3523A的面板保存功能可保存多达60个测量条件，以及128个诸如开路/短路补偿、电缆长度补偿等数值。通过面板读取功能，可读取已保存的测量条件。除手动读取外，还能通过外部控制端子控制面板编号的读取，从而缩短检测线自动化构建的时间。

可靠的产线检查：接触检查功能

在进行四端子测量时，可检测样品间的接触不良情况。通过测量LPOT - LCUR间以及HPOT - HCUR间的接触电阻，若电阻值超过设定的阈值，将显示错误信息。

应用程序

请下载示例应用程序和参阅通讯命令的使用说明

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精度计算软件

仅需输入数值即可轻松计算精度。
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产品规格

基本参数（精度保证期1年）

测量模式	LCR模式：单一条件测量连续测量模式：通过已保存的条件进行连续测量
测量参数	Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc (DC电阻), Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ)
测量量程	100mΩ～100MΩ,10档量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程	Z, Y, Rs, Rp, Rdc, X, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp : ± (0.00000 [单位]〜9.99999G [单位]) Z和Y为绝对值显示 θ: ± (0.000°〜180.000°), D: ± (0.00000〜9.99999) Q: ± (0.00〜99999.9), Δ%: ± (0.0000%〜999.999%)
基本精度	Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率	40Hz ～200kHz （设置分辨率：5 位分辨率）
测量信号等级	V模式，CV模式: 5mV～5Vrms,1mVrms步进 CC模式: 10μA～50mArms,10μArms步进
输出阻抗	常规模式：100Ω
显示	单色LCD
测量时间	2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能	比较器，分类测量(BIN功能)，面板锁定/保存、存储功能
接口	EXT I/O(处理器)，USB通讯，LAN
电源	AC 100〜240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
尺寸及重量	260W × 88H × 203D mm, 2.1 kg
附件	电源线×1，启动指南×1，使用注意事项×1，LCR应用程序光盘×1