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日置 HIOKI

日本 · 电气测量仪器

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日置电机株式会社(HIOKI E.E. CORPORATION)创立于1935年,总部位于日本长野县上田市,是全球领先的电气测量仪器制造商,产品覆盖记录仪、功率分析仪、绝缘电阻测试仪、电流传感器等全套电测领域。

产品分类：

全部 记录仪,数据采集仪 电力测量仪器 电子测量仪表 安全标准测量仪表 电流传感器 现场测试仪器 光伏面板、发电、PV维保测试仪 自动测试设备 环境测量仪表 信号发生器,波形发生器
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LCR测试仪、阻抗分析仪 共 61 个产品

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粉末阻抗测试系统
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粉末阻抗测试系统
产品概要 HIOKI日置的粉末阻抗测试系统可同时测量阻抗、厚度和压制压力（电池材料研究中的三个重要参数），同时以高达 60 kN (764 MPa) 的压力压制粉末材料。该系统设计紧凑，可在空间有限的手套箱（或干燥室）中安装和操作。整个操作无需将样品从手套箱中取出，大大提高了电池开发过程的安全性、确定性和效率。特别是，它为硫化物全固态电池的研究提供了重要价值，这种电池有望作为下一代电动汽车电池，实现商业化。
多路转换器ZC3001
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ZC3001 多路转换器ZC3001
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多路扫描测试软件CN040
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CN040 多路扫描测试软件CN040
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LCR测试仪IM3523A
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IM3523A LCR测试仪IM3523A
LCR测试仪IM3523A测量方法：连续测量不同条件 在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。此时用一台设备就能高速连续完成不同条件下的测量。
化学阻抗分析仪IM3590
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IM3590 化学阻抗分析仪IM3590
阻抗分析仪IM3590：对应Cole-Cole图，等效电路分析等阻抗测量 使用例：可以用于电气化学元件和材料、电池、双电层电容器的测量中的Cole-Cole图和等效电路分析。使用例：适用于电池的电极/电解质界面中的电荷移动电阻或电解质内的物质移动过程等电池内部的现象分析
LCR测试仪IM3533
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IM3533 LCR测试仪IM3533
LCR测试仪IM3533测量方法：连续测量不同条件 电容的测量条件下，希望120Hz时进行C-D测量。希望100kHz时进行ESR测量。这时，可以用1台仪器高速的连续测量不同条件。
LCR测试仪IM3536
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IM3536 LCR测试仪IM3536
电解电容器的电容测量：LCR测试仪IM3536 根据JIS标准测试电解电容器，电解电容的电容值在不同测试频率下容值差异较大，因此需要根据实际回路的工作频率来确认电容值。LCR测试仪IM3536宽测试频率范围DC,4Hz~8MHz，适用于以上产品特性评估。
C测试仪 3504-40
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C测试仪 3504-40
● 高速测量2ms ● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 $(document).ready(function() { $('#img_a').click(function() { showVideo('video_a', 'XNTEyNTQxNzkwNA=='); }); $('#img_b').click(function()
C测试仪3504-50
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C测试仪3504-50
● 高速测量2ms● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 $(document).ready(function() { $('#img_a').click(function() { showVideo('video_a', 'XNTEyNTQxNzkwNA=='); }); $('#img_b').click(function()
C测试仪 3504-60
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C测试仪 3504-60
● 高速测量2ms● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 $(document).ready(function() { $('#img_a').click(function() { showVideo('video_a', 'XNTEyNTQxNzkwNA=='); }); $('#img_b').click(function()
C测试仪 3506-10
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C测试仪 3506-10
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。 $(document).ready(function() { $('#img_a').click(function() { showVideo('video_a', 'XNTEyNTQxNzkwNA=='); }); $('#img_b').cl
阻抗分析仪IM3570
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IM3570 阻抗分析仪IM3570
阻抗分析仪IM3570测量方式：压电元件的共振特性的测量 LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定，并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。
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